EUV极紫外波前传感器

波前传感器,又称波前探测器、波前分析仪,是用于**测量和分析光学波前的设备。通过实时测定动态入射波前的相位畸变,为波前重构及校正提供信息。
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波前传感器,又称波前探测器、波前分析仪,是用于**测量和分析光学波前的设备。通过实时测定动态入射波前的相位畸变,为波前重构及校正提供信息。


夏克 - 哈特曼波前传感器:由微透镜阵列和光电探测器(CCD 或 CMOS)组成。平行入射光束经微透镜阵列,每个微透镜将光束汇聚到 CCD 上形成聚焦点。理想平面波经微透镜后成像位置为零点,畸变波前的聚焦成像点与零点的偏差可计算出波前的局部斜率,进而获取波前信息。


优点:灵活性*、适应性广、光谱范围宽,结构紧凑,对环境扰动抗干扰能力较强,波前重建算法轻量级,可实现*速波前重建。



主要特点

        Hartmann波前传感器(相干和非相干辐射)

        紧凑结构

        光化性能检测

            -EUVL 等离子源

            -自由电子激光

            -HHG*次谐波束

        实时光学调整

        单个脉冲重复性:λ/116 (wrms),for EUV (λ =13.5 nm)


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技术规格

        波长范围:<1nm~60nm(量子转换涂层)

        视场:9mmX6.7mm(可选更大尺寸)

        动态范围:14Bit

        Hartmann 盘:precision pinholes Ø75μm, 250μm pitch

        倾角:±10°

        XY调节范围:±10mm

        UHV兼容:CF63法兰

图片18.png图片19.png

Wavefront measurement of Free Electron Laser FLASH

(DESY/Hamburg) at λ=13.5nm, before (above) and after

(below) adjustment of beam line optics (B. Flöter, K.

Mann, K. Tiedtke et al. NIM A 635, S108–S112 (2011) )


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Spot pattern @ λ=1.5 nm

(LCLS / Stanford)


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Reconstructed intensity profile


光束测试软件

光束测试软件.png


测试基于ISO标准

Parameter

Standard

Beam diameter光束直径

ISO 11146

Divergence发散

ISO 11146

Beam profile光束剖面

ISO 13694

Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性

ISO 11670

M2 质量因子/ Focusability聚焦性

ISO 11146

Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布

ISO 15367

Coherence 相干

-

Around 20 various camera types are supported





产品品牌
PRO
产品型号
EUV/XUV
产地类别
德国
厂商性质
代理商