波前传感器,又称波前探测器、波前分析仪,是用于**测量和分析光学波前的设备。通过实时测定动态入射波前的相位畸变,为波前重构及校正提供信息。
夏克 - 哈特曼波前传感器:由微透镜阵列和光电探测器(CCD 或 CMOS)组成。平行入射光束经微透镜阵列,每个微透镜将光束汇聚到 CCD 上形成聚焦点。理想平面波经微透镜后成像位置为零点,畸变波前的聚焦成像点与零点的偏差可计算出波前的局部斜率,进而获取波前信息。
优点:灵活性*、适应性广、光谱范围宽,结构紧凑,对环境扰动抗干扰能力较强,波前重建算法轻量级,可实现*速波前重建。
主要特点
Hartmann波前传感器(相干和非相干辐射)
紧凑结构
光化性能检测
-EUVL 等离子源
-自由电子激光
-HHG*次谐波束
实时光学调整
单个脉冲重复性:λ/116 (wrms),for EUV (λ =13.5 nm)
技术规格
波长范围:<1nm~60nm(量子转换涂层)
视场:9mmX6.7mm(可选更大尺寸)
动态范围:14Bit
Hartmann 盘:precision pinholes Ø75μm, 250μm pitch
倾角:±10°
XY调节范围:±10mm
UHV兼容:CF63法兰
Wavefront measurement of Free Electron Laser FLASH
(DESY/Hamburg) at λ=13.5nm, before (above) and after
(below) adjustment of beam line optics (B. Flöter, K.
Mann, K. Tiedtke et al. NIM A 635, S108–S112 (2011) )
Spot pattern @ λ=1.5 nm
(LCLS / Stanford)
Reconstructed intensity profile
光束测试软件
测试基于ISO标准
Parameter | Standard |
Beam diameter光束直径 | ISO 11146 |
Divergence发散 | ISO 11146 |
Beam profile光束剖面 | ISO 13694 |
Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性 | ISO 11670 |
M2 质量因子/ Focusability聚焦性 | ISO 11146 |
Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布 | ISO 15367 |
Coherence 相干 | - |
Around 20 various camera types are supported |