美国PolyK Technologies公司基于改进优化的动态Sawyer-Tower电路开发的该系统，用于测量介电和铁电材料的电荷密度与电场及频率的关系。

系统特点
    • 整合了系统保护电路：当试样在*压测试发生击穿时，可有效的保护测试系统；
    • 配合Trek*压放大器执行测试时，*压>10kV,并且频率可达1000Hz, 可升级达300kHz；
    • *压击穿测试可在AC、DC或者Field endurance life模式下测试，而且只需简单的切换信号连接即可；
    • 自动铁电性能测试直至介电击穿发生；
    • 对于介电材料充放电测试，软件能自动给出充电能量密度和放电能量密度，以及充放电效率；
    • 对于寿命循环测试（DC模式或者AC模式），系统会自动生成测试总结文件；
    • 独特的夹具设计，确保即使测试软的*分子介电材料也不会损伤样品；
    • 基于LabView设计的功能强大的软件系统，用户可方便地控制电压、信号波形（三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary）和频率；

技术规格
    • 内置电压：±100V or ±200V放大器
    • 电压放大器>10kV to 30kV
    • 电荷：<1nC to >1mC(取决于放大器输出)
    • 测试频率：0.01Hz to 1000Hz, or 10kHz, or 300kHz.
    • 压电应变测量选件：Fotonic Sensor 10nm分辨率 或者磁电传感器；
    • *压变温测试选件：-184℃ to 250℃；

测试功能
    • DHM测量：Dynamic Hysteresis measurement
    • PM测量：PUND measurement
    • SHM测量：Static hysteresis measurement
    • FM测量：Fatigue measurement
    • RM测量：Retention measurement
    • IM测量：Imprint measurement

    • 漏电流测量：Leakage Current measurement(可选)

    • 热释电测量：Pyroelectric measurement（可选）

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